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詳細摘要： 二手日本電子 JSM-7900F 場發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機型。 它繼承了上一代廣獲好評空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時，操作性能簡單化。 該設備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。

詳細摘要： 二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動化功能，結(jié)合了自動軸功能，包括自動橫梁設置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。

詳細摘要： 二手 日立S-3400N 掃描電鏡 在材料科學、半導體研發(fā)和工業(yè)檢測領域，高精度微觀分析能力是推動技術(shù)突破的關(guān)鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其成像性能和多功能分析能力，成為科研機構(gòu)與企業(yè)的核心檢測工具。作為行業(yè)的設備解決方案供應商,推出的日立 S-3400N 租售服務，以靈活的模式、專業(yè)的技術(shù)支持和全周期服務體系，為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.

詳細摘要： 二手JEOLIT-500HR場發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領域樣品觀測與成分檢測需求。

詳細摘要： 二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設備在半導體制造和納米材料研究領域具有廣泛的應用

詳細摘要： 二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實現(xiàn)SE/BSE信號自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

詳細摘要： 二手日立 SU-8230 冷場超高分辨掃描電鏡主要功能及應用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析。可以觀察和檢測非均相有機、無機材料，及這些材料在納米、微米級樣品的表面特征。該儀器廣泛應用于金屬材料、高分子材料、半導體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

詳細摘要： 二手 牛津EBSDNordlysMax3實時采集、標定和顯示結(jié)果速度高達1580點/秒AZtec EBSD提供全面采集性能同時采集分析EBSD和EDS數(shù)據(jù)，速度不衰減同時保持高靈敏度和高靈活性它將成為您電鏡上的一名新成員

詳細摘要： 二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應用于無機材料、高分子材料、復合材料、納米材料、半導體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。

詳細摘要： Hitachi 二手SU5000熱場式場發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。

詳細摘要： Hitachi 二手 SU-5000場發(fā)射電鏡 SEM+EDX是一款高性能電子光學系統(tǒng)，具備2.0 nm的二次電子分辨率和強大的低加速電壓成像能力（低至100 V），支持高效微區(qū)分析及材料研究。其“EM Wizard"界面簡化了操作流程，提供高真空與可變壓力模式之間的靈活切換，并配備了多種分析工具如EDS、WDS、EBSD等，適用于廣泛的科研領域。

詳細摘要： 二手 日立 SU-5000 熱場發(fā)射電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進行簡單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場光學元件和可變壓力輕松對任何類型的樣品進行成像，最多可同時提供4個信號，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。

詳細摘要： 二手 蔡司 sigma300 場發(fā)射電鏡分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma 半自動的4步工作流程節(jié)省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準可重復的分析結(jié)果。

詳細摘要： 二手電鏡SEM二手EDX能譜 JSM-IT100 掃描電子顯微鏡/掃描電鏡 是JSM-6010及JSM-6510的升級型號，是一款高效能、操作容易、高效率的電子顯微鏡。全新設計的InTouchScope操作界面，即便是初次使用儀器的人員也能輕松上手。面對越來越多元化的操作環(huán)境需求，JSM-IT100的操作設計，能讓您更輕松、有效率的使用儀器。

詳細摘要： 二手 JEOL日本電子 IT-300 掃描電鏡日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能，多功能，多用途的鎢燈絲掃描電鏡。前衛(wèi)性外觀設計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制，極為簡化，操作簡單和智能化的一種體驗。

詳細摘要： 二手 日本電子 IT-500掃描電鏡是JEOL InTouchScope系列的新機型。 從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無縫操作，使用更加方便的掃描電子顯微鏡

詳細摘要： 日立SU-8010 二手掃描電鏡通過對樣品二次電子、背散射電子的采集，可進行物質(zhì)微觀形貌和生物組織觀察；并基于EDS附件得到部分元素定性和半定量分析，可以進行微區(qū)的點、線、面掃描測試。 場發(fā)射掃描電鏡SU8010它繼承了上一代S-4800的優(yōu)點，性能有進一步提高，1kv使用減速功能后，分辨率提升到1.3nm，相對于S-4800可以在更低的加速電壓下高分辨像，明顯提升了以往很難觀測的低原子序數(shù)樣品。

詳細摘要： 二手 日立 SU8020 高分辨冷場發(fā)射電鏡具有的功能，適用于各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、 背散射電子像觀察及圖像處理。低電壓下通過在納米尺度上觀察生物樣品如組織、 細胞、 微生物以及生物大分子等，獲得忠實原貌的立體感的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能X射線能譜儀，能同時進行樣品表層的微區(qū)點線面元素的定性、 半定量分析，具有形貌、 化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： SU-8010 日立二手冷場發(fā)射電鏡二次電子像、反射電子像進行觀察及圖像處理。可對金屬、陶瓷、巖石礦物、生物等樣品及各種固體材料進行觀察和分析研究。電鏡配有高性能X射線能量色散譜儀，簡稱能譜儀（EDS），能在不損壞樣品的同時進行樣品表層的微區(qū)點、線、面元素的定性、定量分析。具有形貌、化學組分綜合分析能力。

詳細摘要： 二手 日立S-4800冷場發(fā)射電鏡觀察和檢測體相及納米結(jié)構(gòu)的固態(tài)無機材料（非磁性）等表面形貌和組成